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阻抗增益相位解析儀的測量解析

點擊次數(shù):1347 更新時間:2021-12-15

阻抗增益相位解析儀的測量解析


測量、解析示例

測量對象掃描參數(shù)測量參數(shù)解析、運算
頻率DC偏壓AC振幅時間
壓電元件導納(∣Y∣【S】)、相位(θ【deg】)、電導(G【S】)、電納(B【S】)特征頻率、壓電常數(shù)
電介質(zhì)并聯(lián)靜電容量(Cp【F】)、并聯(lián)電阻(Rp【Ω】)電容率(εs、εs’、εs")、損失率(tanδ)
磁性材料串聯(lián)自自身電感(Ls【H】、串聯(lián)電阻(Rs【Ω】)導磁率(μs、μs’、μs")、損失率(tanδ)
線圈串聯(lián)自身電感(Ls【H】)、并聯(lián)自身電感(Lp【H】)、串聯(lián)電阻(Rs【Ω】)、并聯(lián)電阻(Rp【Ω】)、相位(θ【deg】)、品質(zhì)因素(Q)等效回路推測、等效回路模擬
電容串聯(lián)靜電容量(Cs【F】)、并聯(lián)靜電容量(Cp【F】)、串聯(lián)電阻(Rs【Ω】)、并聯(lián)電阻(Rp【Ω】)、相位(θ【deg】)、損失率(D)、品質(zhì)因素(Q)等效回路推測、等效回路模擬
電阻阻抗(∣Z∣【Ω】)、相位(θ【deg】)、電阻(R【Ω】)、電抗(X【Ω】)等效回路推測、等效回路模擬
變壓器漏電感Lleak【H】
測量互相電感電感(【H】)互相電感(M【H】)
測量耦合系數(shù)電感(【H】)耦合系數(shù)(k)
測量繞組比繞組比(Nr)
二極管并聯(lián)靜電容量(Cp【F】)、品質(zhì)因數(shù)(Q)調(diào)諧特性模擬(共振頻率【Hz】)
伺服測量環(huán)路特性增益、相位【deg】、增益實部、增益虛部相位容限【deg】、增益容限【dB】、環(huán)路帶寬【Hz】
測量閉路特性增益、相位【deg】相位容限【deg】、增益容限【dB】、環(huán)路帶寬【Hz】、閉路-開路轉(zhuǎn)換、生成回路模型、回路模型模擬
測量開路特性增益、相位【deg】相位容限【deg】、增益容限【dB】、環(huán)路帶寬【Hz】、閉路-開路轉(zhuǎn)換、生成回路模擬、回路模型模擬
增益電路增益、相位特性增益、相位【deg】、群延遲【s】生成傳遞函數(shù)、模擬傳遞函數(shù)
CMRR特性增益、相位【deg】CMRR特性圖
PSRR特性PSRR
微分增益微分相位特性增益、相位【deg】
飽和特性增益最大值和增益的差1dB壓縮等級(【Vpk】/【dB】)
濾波器電路增益、相位【deg】、群延遲【s】下限截止頻率【Hz】、上限截止頻率【Hz】、通頻帶增益、最大衰減量、通帶波紋、BEF衰減量、帶寬【Hz】、生成傳遞函數(shù)、模擬傳遞函數(shù)



電子材料

壓電元件

● 測量參數(shù):導納、相位、電導、電納

解析.運算

提取參數(shù)、匹配電感、參數(shù)模擬


電介質(zhì)

● 測量參數(shù):并聯(lián)靜電容量、并聯(lián)電阻

● 解析. 運算:介電常數(shù)、損失率


磁性材料

● 測量參數(shù):串聯(lián)自感、串聯(lián)電阻

● 解析. 運算:導磁率、損失率


電子電器零部件

線圈

● 測量參數(shù):串聯(lián)自感、并聯(lián)自感、串聯(lián)電阻、并聯(lián)電阻、相位、品質(zhì)因數(shù)

● 解析.運算:等效電路推定、等效電路模擬


電容

● 測量參數(shù):串聯(lián)靜電容量、并聯(lián)靜電容量、串聯(lián)電阻、相位、損失率、品質(zhì)因數(shù)

● 解析.運算:等效電路推定、等效電路模擬


電阻

● 測量參數(shù):阻抗、電阻、電抗、相位

● 解析.運算:等效電路推定、等效電路模擬


變壓器

● 測量參數(shù):漏電感、繞組比

● 解析.運算:互感、耦合系數(shù)


二極管

● 測量參數(shù):CV特性、并聯(lián)靜電容量、品質(zhì)因數(shù)

● 解析.運算:調(diào)諧特性模擬


■ 電路

伺服

● 測量參數(shù):環(huán)路特性、開路特性、閉路特性、負反饋傳遞函數(shù)

● 解析.運算:互感、耦合系數(shù)


增益電路

● 測量參數(shù):增益.相位特性、CMRR特性、PSRR特性、飽和特性、微分增益微分相位特性

● 解析.運算:傳遞函數(shù)生成、傳遞函數(shù)模擬


濾波電路

● 測量參數(shù):頻率特性

● 解析.運算:傳遞函數(shù)生成、傳遞函數(shù)模擬


測量電子零部件的阻抗

電子裝置中使用了大量的線圈及電容。要設計高性能的裝置,正確的掌握并運用這些電子零部件的特性極為重要。電子零部件的測量使用LCR測量儀或阻抗解析儀等,測量電壓、電流一般較小,只有幾V、1A左右,對于在100V以上和10A條件下使用的零部件,測量值與實際條件下的使用值不同。


如果是ZGA5920......

● 高電壓輸入

● 寬動態(tài)量程

● 輸出入間絕緣

● 高電壓、大電流驅(qū)動用功率放大器

● 帶電流檢測回路測量適配器

上述條件使在實際運行條件下測量成為可能。對測量、評價作為驅(qū)動器使用的壓電元件等也極為有效。


測量開關電源的環(huán)路增益

評價回路的穩(wěn)定性時,要測量環(huán)路增益。

如果是ZGA5920......

● 在環(huán)路中加載信號,在閉環(huán)的動作狀態(tài)下測量開環(huán)增益

● 自動算出可定量評價穩(wěn)定性的相位容限、增益容限。


本文來源于日本NF株式會社

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