耐壓試驗(yàn) vs 部分放電試驗(yàn)②

點(diǎn)擊次數(shù)：2024 更新時間：2022-08-24

在上一期的內(nèi)容中，主要介紹了耐電壓試驗(yàn)與部分放電試驗(yàn)這兩種絕緣評價試驗(yàn)的基本定義。

在這一期會更深入的來介紹一下部分放電試驗(yàn)。

部分放電試驗(yàn)

部分放電是絕緣體的一部分發(fā)生局部破化的放電現(xiàn)象。這種現(xiàn)象主要發(fā)生在絕緣體間隙 (間隙、void、gap、氣泡等)中的空氣放電。而電暈放電在廣義上也是局部放電的一種。

在通常情況下，空隙是由空氣等的氣體所形成，由于其尺寸非常小，所以空隙的靜電容量也很小。在電極間施加電壓后，在靜電容量非常小的空隙部分會受到很大的電壓。在此類微小的空隙中施加高電壓后，超過空氣的破壞電解而放電的現(xiàn)象被稱為部分放電。

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部分放電試驗(yàn)的持續(xù)性

一旦發(fā)生放電后，間隙間就會被短路，放電也會被立即中止。因此，對于測試電壓是直流還是交流會有很大的變化。

如下圖所示，當(dāng)Vt為交流時，vg會馬上再次上升? 再次達(dá)到破壞電解，再進(jìn)行放電當(dāng)Vt為直流時，vg則不會發(fā)生變化，所以很難再發(fā)。

作為結(jié)論，發(fā)生部分放電時會呈現(xiàn)脈沖狀，并且比起直流，使用交流進(jìn)行試驗(yàn)會更容易的檢測出部分放電。

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為何要進(jìn)行部分放電試驗(yàn)

在耐電壓試驗(yàn)中，對被測物施加高交流電壓，檢測被測物絕緣破壞時流動的泄漏電流，從而判斷合格/不合格。也就是說被視為"絕緣破壞＝電流增加"來處理，所以在試驗(yàn)中不合格的被測物在大多情況下都處于被損壞并且無法復(fù)原的狀態(tài)。

另外，在耐電壓試驗(yàn)中沒有擊穿 (電流增加)的情況下，即使存在導(dǎo)致絕緣不良的空隙，也可判斷為合格品。另一方面，部分放電試驗(yàn)為捕捉絕緣發(fā)生前的電荷量增加，因此在多數(shù)情況下被測物不會被破壞。

部分放電試驗(yàn)與絕緣破壞的關(guān)系

部分放電試驗(yàn)是調(diào)查絕緣物的絕緣狀態(tài)的有效手段。而這兩者間的關(guān)系可參考下圖。

當(dāng)對被測物的施加電壓逐漸上調(diào)后，首先會進(jìn)入放電開始(A)的狀態(tài)。之后產(chǎn)生火花并轉(zhuǎn)移至電弧放電，最終達(dá)到絕緣破壞。之后會先進(jìn)入B~C的穩(wěn)定區(qū)域部分，但從C~D的部分，則會發(fā)生部分放電的激增，最終導(dǎo)致絕緣破壞。

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